میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

میکروسکوپ نیروی اتمی جهت تصویربرداری و تعیین مشخصات نمونه ها در مقیاس نانو کاربرد دارد دستگاه با استفاده از یک پراب نوک تیز سطح نمونه را اسکن مینماید. در حین عملیات روبش، تابش نور لیزر به پشت کانتیلور و انعکاس بازتابش بر روی یک فوتودایود منجر به تشکیل تصویر از سطح نمونه میگردد. میکروسکوپ نیروی اتمی دارای کیت هایی با عناوین Fly، Experts و Pro contact بوده که با استفاده از آن ها میتوان در مدهای عملکردی مختلفی از جمله MFM، EFM، Phase Imaging، Nanolithography، Force Spectroscopy و … تصویربرداری نمود.

کاربردها : تصویربرداری توپوگرافی از سطوح نمونه های مختلف در علوم فیزیک، شیمی، مهندسی مواد و متالوژی، مهندسی خوردگی و در مقیاس نانومتری بررسی نیروهای بین ملکولی بین سطح نمونه و پروب دستگاه مطالعه خواص فیزیکی، مکانیکی، مغناطیسی و الکتریکی مواد بررسی مورفولوژی سطحی در فیلم های پلیمری نانو لیتوگرافی مکانیکی و شیمیایی روی سطح نمونه کنترل کیفی سطوح پوشش داده شده محاسبه اندازه ذرات مواد پودری آنالیز ترک خستگی